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服务简介

我司作为专业第三方电子元器件失效分析机构，可提供二极管失效分析服务。凭借高精度检测设备（如扫描电子显微镜、X射线衍射仪、红外热成像仪等）和资深工程师团队，我们可为客户提供从失效现象定位、机理分析到改进建议的全流程解决方案，涵盖PCB&PCBA、汽车电子、消费电子等多个领域。

失效分析的目的及重要性

1. 明确失效原因：通过科学分析，精准定位二极管失效的根本原因（如过电应力、材料缺陷、工艺问题等），避免同类问题重复发生。

2. 优化产品设计：为设计改进提供数据支持，提升电路可靠性和器件选型合理性。

3. 降低质量风险：协助企业追溯责任方（如供应商或生产环节问题），减少因失效导致的经济损失。

4. 提升市场竞争力：通过提高产品良率和可靠性，增强客户信任度。

二极管失效分析项目

我司覆盖以下典型失效模式的检测与分析：

1. 电性能失效：短路、开路、反向漏电流异常、击穿电压漂移等。

2. 物理损伤：芯片开裂、焊点脱落、键合线断裂等。

3. 环境适应性失效：高温/低温/湿热环境下的性能退化。

4. 材料缺陷分析：杂质污染、金属迁移、封装材料老化等。

二极管失效分析方法

1. 非破坏性分析

- 外观检查：通过显微镜观察封装破损、引脚氧化等表面缺陷。

- 电性能测试：使用万用表、半导体参数分析仪测量正向压降、反向漏电流等参数。

- X射线检测：透视内部结构，发现键合线断裂或封装分层等问题。

2. 破坏性分析

- 开封分析（Decap）：去除封装材料，直接观察芯片内部结构及缺陷。

- 扫描电子显微镜（SEM）：分析微观形貌，如金属迁移、裂纹扩展等。

- 能谱分析（EDS）：检测材料成分异常，识别污染物或元素扩散。

3. 环境模拟测试

- 高低温循环：验证温度应力对二极管性能的影响。

- 湿热老化：评估封装材料在潮湿环境中的可靠性。

报告办理流程

1. 咨询与送样：客户提供失效样品及背景信息（如失效现象、使用环境等）。

2. 方案制定：工程师团队根据需求定制分析方案，明确检测项目与方法。

3. 实验分析：采用多维度技术手段完成测试，定位失效原因。

4. 报告交付：7个工作日内提供中英文电子/纸质报告，包含失效机理、数据图表及改进建议。

服务优势

1. 资质权威：CMA/CNAS认可，报告国际互认，适用于司法仲裁与质量认证。

2. 技术全面：整合电学、材料学、环境模拟等多学科分析手段，覆盖全失效场景。

3. 高效响应：常规项目7个工作日内完成，支持加急服务。

4. 全国覆盖：多地实验室联动，提供本地化技术支持。

5. 定制化方案：针对汽车电子、军工等高可靠性领域，提供专项测试与深度分析。

经典案例

某车载LED灯二极管失效分析

- 问题：二极管短路导致灯具不亮。

- 分析过程：

- X射线检测发现晶圆边缘金属附着异常。

- 开封后通过SEM/EDS确认银元素污染导致短路。

- 解决方案：优化封装工艺，避免粘结料溢出，客户良率提升30%。

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